MÁY PHÂN TÍCH ĐỘ DÀY LỚP PHỦ VÀ PHÂN TÍCH CÁC NGUYÊN TỐ ĐỘC HẠI iEDX-200AT

CÁC THÔNG SỐ KỸ THUẬT

ĐẶC TÍNH SẢN PHẨM

• Đây là sản phẩm đồng  nhất, có thể đo lường độ dày, phân tích các nguyên tố độc hại và phân tích các kim loại nặng
• Sử dụng tia X để đo độ dày lớp phủ mà không cần phải phân hủy, không phải tiếp xúc
• Đo lường các sản phẩm đa dạng – phân tích độ phủ đơn và kép, lớp phủ hợp kim và phủ chất lỏng
• Thông qua chức năng điều khiển của trục chùm tự động , vị trí đặt camera hoàn hảo đo điểm chức năng tự động sắp xếp qua các giai đoạn

LĨNH VỰC HOẠT ĐỘNG

• Kiểm tra không phải phá hủy
• Tự động , bảng mạch điện tử , kết nối điện tử, điện thoại di động và sản phẩm IT
• Duy trì nội dung chính xác trong việc phân tích độ dày các lớp phủ
• Đo độ dày lớp phủ kim loại quý
• Nghiên cứu, phát triển sản phẩm và kiểm soát chất lượng